Phasenverschiebung: zwei Eingangssignale

' schrieb:Was heisst denn "richtige Konfiguration"? Ich habe den virtuellen Kanal eingestellt, der gemessen werden soll und Typ der Messung (also Abtastung eines analogen Kanals mit mehreren Abtastwerten).

"Richtige Konfiguration" heißt, dass du alle zu messenden Kanäle zu EINEM Task vereinst. Also "Create Task", dann "Create Channel" so oft, wie du das brauchst (in deinem Fall wohl 2x hintereinander). Und danach erst die Messungen starten.
Dann ist die Zeitdifferenz zwischen den Messungen beider Kanäle nur durch deinen MUX begrenzt und sollte im ns-Bereich liegen.

Ok, zunächst schon einmal vielen Dank an alle, die sich bemüht haben, mir in dieser Angelegenheit zu helfen.

Hier die Lösung: das Stichwort ist "Interchannel Delay". Und zwar weden die abgefragten, analogen Signale in der Messkarte digitalisiert, und zwar ein Kanal nach dem nächsten. Diese Digitalisierung benötigt selbstverständlich Zeit und ist abhängig von der Sample-Rate. Dementsprechend kommt es zu einer Verzögerung zwischen den Kanälen.

Um nun die exakte Phasenlage von den zwei Signalen zu erhalten, muss der Interchannel Delay umgerechnet werden und der zeitliche Versatz kompensiert werden. Beispiel:

Zwei Signale bzw. zwei Kanäle werden mit einer Sample-Rate von f=100kHz abgetastet. Der Delay beträgt dann t=(1/100kHz)/2)=5µs. In Abhängigkeit der angelegten Sinus-Spannung beträgt dann zum Beispiel die durch den Delay verursachte Phasenverschiebung bei einer Frequenz von f=10kHz in Grad:

[ 5 µs (Interchannel-Delay)/100 µs (Periodendauer) ] * 360° = 18°

Also beträgt der Versatz bedingt durch den Interchannel-Delay exakt 18° zwischen den beiden Signalen. Beachtet man das, können mit Hilfe der FFT-Messung die Phasenlagen voneinander subtrahiert werden.

Ich hoffe, dass das mal jemandem nützlich sein wird?!

Also, nochmals vielen Dank und tschüss!

' schrieb:Zwei Signale bzw. zwei Kanäle werden mit einer Sample-Rate von f=100kHz abgetastet. Der Delay beträgt dann t=(1/100kHz)/2)=5µs. In Abhängigkeit der angelegten Sinus-Spannung beträgt dann zum Beispiel die durch den Delay verursachte Phasenverschiebung bei einer Frequenz von f=10kHz in Grad:

Lässt sich denn die Messkarte (bzw. der MUX) immer soviel Zeit, wie sie nur irgendwie hat, um zwischen den Kanälen umzuschalten? Dann hätte man ja eine riesige zeitliche Differenz der Werte, wenn man statt 100kHz z.B. 0,1Hz als Abtastrate nimmt. Die eigentlich gleichzeitig stattfindenten Messungen werden dann nach dieser Rechnung mit 5s Zeitdifferenz durchgeführt... Das kann nicht sein. Welche Bedingungen müssen erfüllt sein, dass sich die Messkarte so verhält?

Mmh... das ist schon merkwürdig, aber man tastet ja nie mit einer Sample-Rate von 0,1 Hz ab, oder? Das wäre doch auch Quatsch... Ich kann leider nicht sagen, wie und wieviel Zeit sich die Messkarte für das A/D-Wandeln nimmt?!?!

Hier ein Link dazu:

http://digital.ni.com/public.nsf/allkb/9AE...D3?OpenDocument

Auf jeden Fall hat es so mit der korrekten Berechnung der Phasenverschiebung funktioniert...

Ausgehend von deinem Link habe ich durch "weiterklicken" den Fehler gefunden. Siehe dazu folgendes Dokument:
http://digital.ni.com/public.nsf/websearch...39?OpenDocument
Es erklärt den Unterschied zwischen Interval Scanning und Round Robin Scanning.
Alles, was ich bisher kenne, scheint Interval Scanning zu benutzen. Du scheinst aber Round Robin Scanning zu verwenden, deswegen die hohe Zeitdifferenz. Nun ist nur noch die Frage, wie sich das umstellen lässt...

So wie ich es verstanden habe, ist es hardwareabhängig... ich habe eine NI PCI-6035E-Karte, die hintereinander über einen Multiplexer mit einem A/D-Wandler arbeitet. Daher kann sie evtl. nur das "Round Robin Scanning"?!?!

Ich habe keine Ahnung...

Falls Du Langweile haben solltest... hier zwei weitere Probleme meinerseits:

http://www.LabVIEWforum.de/index.php?showtopic=7335

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