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ich bin noch ein recht "frischer" LV-Nutzer und bitte eventuell falsch oder unvollständige Fragen, welche weitere Infos benötigen, zu entschuldigen. Selbstverständlich habe ich mir die Forenregeln zu Gemüte geführt, bemühe mich um eine korrekte Rechtschreibung/Grammatik/Punktuation und habe diese Frage bisher in keinem anderen Forum gestellt.
Einzig auf die Verwendung der Suchfunktion habe ich zunächst verzichtet, da ich mit der Auswahl der Suchbegriffen im Sinne der eindeutigen Zuordnung überfordert bin.
Das verwendete OS ist Windows 7 Enterprise, LabVIEW ist V9.0 (32-Bit) mit SignalExpress2010 V4.0.0.
Ich habe mit einem Messaufnehmer (USB X-Series, NI) und dem dazugehörigen VI DAQmx eine Reihe von Körperschallmessungen (Sensorfrequenzband: 50kH - 400kHz, DAQ: 1M-Sample, 1M-Hz (Abtasttheorem gut eingehalten), kontinuierlich, beginnend mit 10 s Messzeit, Messzeit fallend) durchgeführt und die Werte in binär-codierte Dateiden (*.tdms) gespeichert. Diese sollen nun nachträglich (und in einem extra VI) geöffnet und analysiert werden. Dabei ergeben sich bei mir diverse Probleme, die leider auch fachspezifischer Natur sind. Falls jemand gute Links (muss nicht zwangsläufig "Wikipedia.de" sein) postet, bin ich sehr dankbar/möchte ich gern mein Wissensstand erweitern.
Zunächst öffne ich über eine Benutzerabfrage eine einzelne Datei und lese diese dann aus (siehe Anhang). Diese Werte lasse ich mir in einem Waveform-Graphen anzeigen. An dieser Stelle die 1. Frage: Während der Aufnahme der Messwerte habe ich "kurz" vor Beginn des Fräsvorgangs und "später", nach Beendigung des Fräsvorgangs, angefangen und aufgehört Messwerte aufzunehmen. Folglich ist im Graphen zunächst ein Störsignal (thermisches Rauschen und andere Hintergrundgeräusche), dann - sehr schön zu sehen - das eigentliche Signal widerzufinden. Welche Filtermöglichkeiten gibt es, sodass ich ab "sprunghaftem" Signalanstieg und -abfall ausschließlich das reine Frässignal extrahiere? 2. Frage: Gefräst wurde ein Messingblock mit ansteigender Tiefe, sodass das Frässignal in acht gleichgroße Intervalle zerlegt werden kann. Wie kann dies in LV realisiert werden? Also die reine Achtelung?
Das eigentliche Ziel ist eine Maschinenüberwachung und Signalzuordnung, sodass ich bei einem Signal s mit Amplitude a, Frequenzspektrum f, RMS-Wert r und weiteren Signalparametern auf einen Fräsvorgang mit Vorschub v, Spindelgeschwindigkeit g (mir gehen die Buchstaben aus), abgetragen Volumen z und so weiter schließen kann.
Somit kommen wir zur 3. Frage: Welche Signalwerte und -parameter haltet ihr für wichtig? Damit es nicht so aussieht als würde ich faul rumsitzen, habe ich mir selbst bisher folgendes überlegt:
- RMS (root-mean-square); entspricht dem Effektivwert der Wechselspannung bzw. der Energie, die bei einer vergleichbaren Gleichspannung angelegen hätte
- Das Frequenzspektrum mittels FFT oder DFT (Unterschied?), um die verschiedenen Frequenzanteile des Gesamtsignal zu ermitteln. Dazu gleich weiterführend die Frage: Welche Frequenz ist am stärksten Vertreten und mit welcher Amplitude
Welche weiteren Signalverarbeitungsparameter würdet ihr noch empfehlen.
Ich danke für etwaige Hilfe. Ein entspanntes Wochenende,
Christian.
Vielleicht ist es hilfreich, wenn ich sage, warum z.B. ich nicht geantwortet habe.
Weil ich das Gefühl habe, da es hier nicht um die einzelnen Fragen geht, sondern um komplettte Projekbegleitung von Anfang bis zum Ende - und das übersteigt meine Möglichkeiten. Deshalb meide ich den Thread lieber gleich von Anfang an.
Bestätigt wird diese Gefühl auch dadurch, daß Du zwar ein VI angehängt hast, welches aber nur belegt, daß du selbst noch beim Stand Null bist. Das ist ja kein Programm, sondern besteht nur aus 4 nebeneinader hingeklatschten Express-VIs, mit so gut wie keiner Verdrahtung.
22.03.2011, 13:55 (Dieser Beitrag wurde zuletzt bearbeitet: 22.03.2011 13:56 von GerdW.)
dann hake ich nochmal nach:
Ich habe nicht geantwortet, weil du Signale auswerten willst, die nur du kennst. und deren Verlauf du uns nicht mal mit einem Bildchen zeigst. Zu diesen Signalen, deren theoretischen Hintergrund du im Zweifel besser beurteilen kannst als wir, sollen wir dir nun Hinweise zur Verarbeitung geben...
Hast du keine Fachliteratur, die du zum Thema lesen könntest? (Z.B. bei der Frage nach dem Unterschied von FFT und DFT...)
Keinen fachlichen Betreuer, den du dazu fragen könntest?
Zitat:Das eigentliche Ziel ist eine Maschinenüberwachung
Schreib ein Lastenheft und es wird sich jemand finden, der dir ein Angebot dazu liefert
