LabVIEWForum.de - Zwischen zwei Hi-Eingängen messen

LabVIEWForum.de

Normale Version: Zwischen zwei Hi-Eingängen messen
Du siehst gerade eine vereinfachte Darstellung unserer Inhalte. Normale Ansicht mit richtiger Formatierung.
Guten Morgen,
ich habe eine Frage zum Agilent 34970a.
Ich bearbeite zur Zeit ein LabVIEW-Meßprogramm, welches Messungen mit PT100-Temperatursonden auswertet. Eine Art der Ausführung sind Pt100 Sonden in 3-Leiter-Technik. Vorteil dabei ist, dass man neben dem PT100-Widerstand, der abhängig von der Temperatur ist, auch die parasitären Zuleitungswiderstände messen kann. Durch die Verschaltung am Agilent, liegt dieser parasitäre Widerstand aber zwischen den beiden Hi-Eingängen von 2 Kanälen, in meiner Verschaltung zwischen Kanal 101-Hi und Kanal 111-Hi.
Weiß jemand, wie man diesen Widerstand zuverlässig bestimmen könnte? Kann das Agilent zwischen zwei Hi-Eingängen messen?
Schönen Gruß....
Referenz-URLs