Hallo,
ich wollte im rahmen meiner Diplomarbeit mittels LabVIEW und dem NI ELVIS II, Gatterlaufzeiten von ICs im nanosekunden-bereich messen.
Jetzt habe ich die Vermutung das ich da nicht weit komme, bzw. glaube das ich mit LabVIEW im ns bereich nichts darstellen kann...
Warscheinlich kann ich da ohne Taktkarte nichts ausrichten?
Hat da jemand Erfahrung?
MfG Jonny
Ich bahaupte einfach mal:
Natürlich kannst du in LV Daten im ns Bereich darstellen...
... du brauchst halt nur eine Hardware, die dir das auch liefern kann...
Gruß SeBa
Zwischen Einschwingzeit (Anstiegszeit) Tau und Grenzfrequenz f0 gilt nach Küpfmüller:
Tau = 1/(2*fo)
Für die Messung von Gatterlaufzeiten im ns - Bereich brauchst Du ein Gerät welches selbst eine Anstiegszeit besser als 1ns hat, z.B einen Sampling-Oszilloskop mit mindestens 500MHz Grenzfrequenz.
Wie SeBa schon sagt: Mit LabVIEW kann man alles darstellen und auswerten, z.B die mit einem solchen Oszilloskop aufgenommenen Zeitverläufe. Nur mit den normalen PC-Messkarten von NI als Hardware gehts nicht. Um solche Zeiten messen zu können, ist schon mal eine ausgefeilte Sondentechnik erforderlich.
Als preiswerte Alternative kann man die Gatterlaufzeit näherungsweise auch so bestimmen: man wandelt die Vorzögerungszeitem mittels sehr schneller Logikgatter in Nadelimpulse um, deren Länge der Verzögerungszeit entspricht. Aus dem Tastverhältnis (Mittelwertbildung) kann man dann die Laufzeit berechnen. Das ist aber nicht sehr genau und höchstens eine Empfehlung für ganz arme Leute.