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Hallo;
Ich muss die Kapazität einer Lieferung von gleichen Kondensatoren messen und bewerten. Das klappt auch soweit ohne Probleme.
Nun liegen meine Messwerte natürlich in einem Tolleranzband und sind somit nicht exakt gleich. Mein Problem ist jetzt, dass ich ein VI entwickeln muss, welches mir die Kapazitäten in Abhängigkeit von der SN gleichmäßig verteilt, so dass die "Hüllfunktion" über die Messwerte möglichst gerade verläuft. Aufsteigen, absteigend ist ja kein Problem.
Ich hoffe ich habe mein Problem ausreichend beschrieben und mir kann jemand einen Tipp geben?
MfG
Numumba
Hallo Numumba,

Zitat:Kapazitäten in Abhängigkeit von der SN
Ehm, SN=Seriennummer??? Kapazität in Abhängigkeit von der Seriennummer???

Zitat:"Hüllfunktion" über die Messwerte möglichst gerade verläuft. Aufsteigen, absteigend
Einfach die Messwerte sortieren? Dann hast du monoton steigende Werte. Wenn du das Array dann noch "umdrehst", hast du monoton fallende Werte.

Zitat:Ich hoffe ich habe mein Problem ausreichend beschrieben
Für mich nicht...
Problem ist für mich auch unklar.

klingt so ein wenig nach Statistik. Also man könnte den Mittelwert und die Standardabweichung aus den Messwerten berechnen. Müssten aber alles die gleichen Kondensatoren (Typ und Kapazität) sein, was ja der Fall zu sein scheint. Man könnte dazu ein Histogramm erstellen.

Statistisch könnte man testen, ob die gemessene Verteilung der Kapazitäten eine Normalverteilung ist oder nicht. Damit könnten man bei Kenntnis des Produktionsprozesses feststellen, ob ein Problem vorliegt. Ein breite flache Verteilung könnte ein Hinweis sein, dass ein Produktionsparameter wegläuft.

Man könnte auch die maximale Abweichung von einem Sollwert definieren und Kondensatoren aussortieren, die zu stark abweichen.

Aber genug der Spekulation.
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