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NI DMM - Benni123 - 11.10.2011 14:30
Hallo LVF Users,
ich arbeite im Rahmen meiner Bachelor Thesis mit einem NI PXI 3110 Messsystem mit einer NI DMM (digitales Multimeter) PXI 4070 Messkarte.
Meine Aufgabe ist es ''kontinuierliches'' Erfassen/Abtasten von Spannungswerten (mulitpoint oder waveform)
Ich habe folgendes Problem:
Ich möchte einen Vorgang progammieren bei dem gleichzeitiges Messen und Lesen der Werte aus dem RAM Speicher möglich ist. Es soll eine Art Eventstruktur sein, bei der ich sobald z.B. 500Messwerte im RAM Speicher(Buffersize) vorhanden sind, diese auslesen und auswerten möchte. Gleichzeitig soll allerdings weiter gemessen werden.
Quasi im Hintergrund des Programms messen und bei Buffersize= 500 Samples diese auslesen.
Wie kann ich diesen Vorgang mit den gegebenen NI DMM Bausteinen realisieren? ist das prinzipiell überhaupt möglich?
Ich habe bisher mehrere Versuche gestartet, die auch kurz erläutern möchte, sodass nicht Sachen gepostet werden die ich schon versucht habe:
1) Erfassung mit Baustein configure waveform: Hier bin ich auf das Probem gestoßen dasss ich immer die Gesamtanzahl an Messpunkten schon vorher eingeben muss (configure waveform,----waveform points.
2)Erfassung über Erfassung von Einzelwerte. Diese Variante ist bei mir nicht möglich da der Vorgang zu langsam ist.
3)Erfassung über configure multipoint: Hier kann leider programmtechnisch keine sample rate eingestellt werden.
Vielen dank für comments