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05.09.2008, 07:54
 Beitrag #1 |
BeatP
LVF-Neueinsteiger
Beiträge: 8
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Highspeed Datenerfassung
Hallo liebe Forum Nutzer
Ich möchte ein Testsystem für mehrere Geräte aufbauen. Bin jedoch noch nicht sehr kreativ im Arbeiten mit LabVIEW.
Vielleicht könnte mir jemand einen Anstoss oder ein Tipp geben.
Es geht um folgendes:
Um die Software unserer Neuentwicklungen zu testen gibt jedes neu entwickelte Gerät ein Bitmuster (1Byte) parallel über ein Port des Prozessors aus. Dieses ausgegebene Byte beschreibt den Status in der sich die Software gerade befindet. Das ausgegebene Byte kann sich sehr schnell ändern (Minimale Ausgabedauer: 1us). Um effiziente Tests durchzuführen möchte ich mehrere Geräte (bis zu 10) gleichzeitig überwachen bzw loggen.
Das Hauptproblem ist meiner Meinung nach, dass wenn 10 Bytes gleichzeitig geloggt werden, können sich jenachdem 2 oder 3 Bytes gleichzeitig verändern.
Und nach ein par Nanosekunden kann sich schon wieder das nächste Byte verändern.
Meine Frage ist nun ob ein solcher Testaufbau mit LabVIEW überhaupt möglich ist?
Welche Hardware wird dazu benötigt?
Vielen Dank für eure Hilfe
MFG Beat
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05.09.2008, 08:10
Beitrag #2
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Achim
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Highspeed Datenerfassung
Hi,
vielleicht nützt dir die hier was:
http://sine.ni.com/nifn/cds/view/comp/p/sn...000940aa482RCRD
Wenn du da mehrere z.B. in nem PXI-Chassis verwendest, kannst du auf eine "beliebige" Menge an Prüflingen kommen. Nur von der Abtastrate wirds vermutlich nicht reichen...
Gruß
Achim
"Is there some mightier sage, of whom we have yet to learn?"
"Opportunity is missed by most people because it is dressed in overalls and looks like work." (Thomas Edison)
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