INFO: Dieses Forum nutzt Cookies...
Cookies sind für den Betrieb des Forums unverzichtbar. Mit der Nutzung des Forums erklärst Du dich damit einverstanden, dass wir Cookies verwenden.

Es wird in jedem Fall ein Cookie gesetzt um diesen Hinweis nicht mehr zu erhalten. Desweiteren setzen wir Google Adsense und Google Analytics ein.


Antwort schreiben 

Highspeed Datenerfassung



Wenn dein Problem oder deine Frage geklärt worden ist, markiere den Beitrag als "Lösung",
indem du auf den "Lösung" Button rechts unter dem entsprechenden Beitrag klickst. Vielen Dank!

05.09.2008, 07:54
Beitrag #1

BeatP Offline
LVF-Neueinsteiger


Beiträge: 8
Registriert seit: Jun 2008

8.5.1
2008
en

7205
Schweiz
Highspeed Datenerfassung
Hallo liebe Forum Nutzer

Ich möchte ein Testsystem für mehrere Geräte aufbauen. Bin jedoch noch nicht sehr kreativ im Arbeiten mit LabVIEW.
Vielleicht könnte mir jemand einen Anstoss oder ein Tipp geben.


Es geht um folgendes:

Um die Software unserer Neuentwicklungen zu testen gibt jedes neu entwickelte Gerät ein Bitmuster (1Byte) parallel über ein Port des Prozessors aus. Dieses ausgegebene Byte beschreibt den Status in der sich die Software gerade befindet. Das ausgegebene Byte kann sich sehr schnell ändern (Minimale Ausgabedauer: 1us). Um effiziente Tests durchzuführen möchte ich mehrere Geräte (bis zu 10) gleichzeitig überwachen bzw loggen.

Das Hauptproblem ist meiner Meinung nach, dass wenn 10 Bytes gleichzeitig geloggt werden, können sich jenachdem 2 oder 3 Bytes gleichzeitig verändern.
Und nach ein par Nanosekunden kann sich schon wieder das nächste Byte verändern.

Meine Frage ist nun ob ein solcher Testaufbau mit LabVIEW überhaupt möglich ist?
Welche Hardware wird dazu benötigt?


Vielen Dank für eure Hilfe
MFG Beat
Alle Beiträge dieses Benutzers finden
Diese Nachricht in einer Antwort zitieren to top
05.09.2008, 08:10
Beitrag #2

Achim Offline
*****
*****


Beiträge: 4.223
Registriert seit: Nov 2005

20xx
2000
EN

978xx
Deutschland
Highspeed Datenerfassung
Hi,
vielleicht nützt dir die hier was:

http://sine.ni.com/nifn/cds/view/comp/p/sn...000940aa482RCRD

Wenn du da mehrere z.B. in nem PXI-Chassis verwendest, kannst du auf eine "beliebige" Menge an Prüflingen kommen. Nur von der Abtastrate wirds vermutlich nicht reichen...

Gruß
Achim

"Is there some mightier sage, of whom we have yet to learn?"

"Opportunity is missed by most people because it is dressed in overalls and looks like work." (Thomas Edison)
Alle Beiträge dieses Benutzers finden
Diese Nachricht in einer Antwort zitieren to top
30
Antwort schreiben 


Möglicherweise verwandte Themen...
Themen Verfasser Antworten Views Letzter Beitrag
  Datenerfassung cDAQ + NI9203 keine synchrone Datenerfassung dieseldunst 5 6.560 24.06.2016 14:49
Letzter Beitrag: jg

Gehe zu: