Struktur für Prüfsystem mit X Prüfungen

Ich habe bei einem Projekt, das sehr viele verschiedene Messgeräte und DUTs unter einer Oberfläche ansprechen sollte, den Weg von dynamisch geladenen VIs gewählt.
Für Dich etwa so:
ID lesen , aus DB queued StateMC füttern, die die benötigte Testroutinen dynamisch läd, konfiguriert, ausführt und Ergebnisse in DB schreibt.

Neue Testroutinen könne dann eingepflegt werden, ohne das 'Hauptprogramm' neu zu compilieren /zu verteilen.
Die nachzuladenen VIs dann ebenfalls auf den Server ... .. nix nachinstallieren...

Und in den 'strickt type defs' Clustern immer noch ein Variant einbauen