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Ich sitze an einem an einem Prüfstand in dem eine Welle rotiert. Auf der Strinseite der Welle sind drei Sensoren verteilt angeordnet für Kraftmessungen und am anderen Wellenende ist eine Scheibe mit einer Marke, die bei Rotation von einem Sensor erfasst wird, also ein Impuls oder ein Punkt auf der Scheibe bei dem der Sensor 8 Volt ausgibt.
Zur Zeit nehme ich die drei Kraftsignale mit einer Messkarte auf NI PXIe 6251 mit 1,5kHz und die Drehzahl mit einer NI USB 6009 auf mit 30kHz und mehr auf. Die beiden Karten laufen in zwei unterschieblichen While Schleifen. Ich möchte jetzt den drei Kraftwerten einen Winkel oder eine Drehposition zu ordnen. Ich weiß, dass man das über Messzahlräder mit einer z.B. 60ger Teilung macht und so über zählen die Position der Welle bestimmt. Diese Mittel stehen mir leider nicht zur Verfügung.
Später wird die Kraftmessung noch durch eine Telemetrie ersetzt, die mir über einer RS232 Schnittstelle Datenpakete schickt, in denen für jeden Sensor viele Messwerte pro Übertragunszyklus steken. Um das zu simulieren dachte ich mir, stelle ich bei der Kraftmesskarte, Sampels to Read einfach auf 100 dann würde mir das System ja auch 100 Werte quasi im Paket Array liefern.
Ich möchte jetzt irgendwie für jeden Kraftwert einen Positionwert bekommen. Idee war ich zähle, wie oft die Marke in der Sekunde vom Sensor erkannt wird. Aus der Zeitlichen Differenz zwischen zwei Marken könnte ich auf den Winkel zurückschließen. Und dieser soll dann den Kraftwerten zugeordnet werden.
Ich müßte irgendwie beide Schleifen miteinander abgleichen habe aber leider keine Idee wie das gelingen könnte?
Gruß
Michael
Ich habe mal einen ausschnitte aus dem bisherigen VI angehängt.
