Dynamisches Cluster

Hi,

gibt es die Möglichkeit eine TypenDefinition von zwei Typendefinionen zu machen, die sich entsprechend bei Veränderungen automatisch aktualisiert?

Hintergrund: In eine TDMS sollen Messdaten gespeichert werden. Zu beginn des Projektes ist nicht ganz klar, welche Sensoren alles verbaut werden (DI, DO, AI, AO etc.) daher hätte ich jetzt für alle Inputdaten ein Cluster angelegt und dieses mittels Typendefinition festgelegt (damit es für SUBVIs weniger Aufwand ist es einzufügen bzw. Fehler schneller entdeckt werden) dass ganze dann auch für die Outputs.
Und dann eben ein "Geclustertes" Cluster aus denen beiden dass sich automatisch an die beiden anpasst.

Oder gibt es da bessere Alternativen?

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